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三維光學(xué)檢測儀的幾個基本概念說明

更新時間:2020-11-24       點(diǎn)擊次數(shù):1826
   三維光學(xué)檢測儀利用光學(xué)原理來采集物體表面三維空間信息的方法和技術(shù),與傳統(tǒng)的接觸式測量相比,它是非接觸式的。隨著光學(xué)技術(shù)、數(shù)字?jǐn)z像技術(shù)及計算機(jī)技術(shù)的迅速發(fā)展,光學(xué)三維測量技術(shù)也獲得了大的發(fā)展,新的理論與方法不斷被發(fā)現(xiàn)和開發(fā),逐步解決了許多過去阻礙實(shí)際應(yīng)用的問題。
  光學(xué)測量的幾個基本概念說明:
  1.光學(xué)測量
  就是利用光學(xué)圖像進(jìn)行的測量,通過圖像處理分析對目標(biāo)的位置、尺寸、形狀和目標(biāo)間的相互關(guān)系等參數(shù)進(jìn)行測量。
  2.攝影測量
  通常不包括利用特殊的光學(xué)手段、如全息干涉、柵格線法等進(jìn)行的光學(xué)測量。用航空或衛(wèi)星照片進(jìn)行的大地測量則習(xí)慣上稱為攝影測量。近景攝影測量通常指對幾十厘米到幾十米距離物體的攝影測量,通常也屬三維測量的范疇。
  3.光學(xué)三維測量
  利用光學(xué)手段和圖像處理分析方法并運(yùn)用計算機(jī)圖形學(xué)的理論來數(shù)字化再現(xiàn)物體的三維形態(tài),在此基礎(chǔ)上,從而可獲取物體各部分間任意的相互尺寸關(guān)系。
  隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)的發(fā)展,光學(xué)三維測量技術(shù)特別是隨著激光技術(shù)、計算機(jī)技術(shù)以及圖像處理技術(shù)等高新技術(shù)的發(fā)展,逐步成為人們的研究重點(diǎn)。光學(xué)三維測量技術(shù)由于非接觸、快速測量、精度高的優(yōu)點(diǎn)在機(jī)械、汽車、航空航天等制造工業(yè)及服裝、玩具、制鞋等民用工業(yè)得到廣泛的應(yīng)用。

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